Консультант:
+7(7232) 26 44 09
с 10:00 до 19:00 в раб. дни
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии

Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии

Автор: Рид С.Дж. Б.

Рейтинг:
(0)

Раздел: Геология

Издательство: Техносфера
ISBN: 978-5-94836-177-2
Год: 2008

Переплет: твердый переплет
Страниц: 232
Язык: русский
Тираж: 3000 экз.
Формат: 70x100/16 (170x240 мм)

3 635 тг.

Количество

Поступление на склад 29.12.2016
Поделиться:

В предлагаемой книге описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены основы взаимодействия ускоренного пучка электронов с образцом и оборудование для ЭЗМА и РЭМ, основные принципы формирования изображения в РЭМ, принципы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС). Подробно изложены процедуры качественного и количественного рентгеноспектрального анализа.Книга предназначена для студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а также как дополнительный материал для специалистов, использующих ЭЗМА и РЭМ для решения геологических задач. Чтобы сделать книгу доступной, в ней опущены излишние технические подробности.

  • Комментарии
Загрузка комментариев...

Похожие товары:

  • Байкальская тетрадь
    3 255 тг.
    Поступление на склад 29.12.2016
0 Корзина
Стоимость
заказа: 0 тг.
Перейти в корзину для оформления заказа
0
Закладки
Посмотреть