Консультант:
+7(7232) 26 44 09
с 10:00 до 19:00 в раб. дни
Инженерные основы измерений нанометровой точности

Инженерные основы измерений нанометровой точности

Автор: Лич Р.

Рейтинг:
(0)

Раздел: Метрология, стандартизация, сертификация

Издательство: Интеллект
ISBN: 978-5-91559-119-5
Год: 2012

Переплет: твердый переплет
Страниц: 400
Язык: русский

12 710 тг.

Количество

Поступление на склад 29.12.2016
Поделиться:

Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемое измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс.Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.

  • Комментарии
Загрузка комментариев...

Похожие товары:

0 Корзина
Стоимость
заказа: 0 тг.
Перейти в корзину для оформления заказа
0
Закладки
Посмотреть