Консультант:
+7(7232) 26 44 09
с 10:00 до 19:00 в раб. дни
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении

Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении

Автор: Шварц А.

Рейтинг:
(0)

Раздел: Научно-популярная, общеобразовательная литература

Издательство: Техносфера
ISBN: 978-5-94836-385-1
Год: 2014

Страниц: 648
Язык: русский

10 875 тг.

Количество

Поступление на склад 28.12.2016
Поделиться:

Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ или EBSD) был разработан относительно давно на основе метода картин каналирования электронов в растровых электронных микроскопах (РЭМ), но широкое практическое применение данного метода в научных и прикладных исследованиях началось лишь в середине 90-х годов прошлого века. Развитие данного метода было неразрывно связано с успехами в компьютерной технике и высокочувствительных цифровых камер, поскольку максимальный эффект от его применения мог быть получен только при высоком быстродействии систем регистрации дифракционных картин и быстрой компьютерной обработке полученной цифровой информации. Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ), используемый в растровом электронном микроскопе (РЭМ) в качестве дополнительного аналитического метода, позволяет на поверхности массивных поликристаллов без труда определять ориентации отдельных зерен, локальную текстуру, корреляцию ориентаций между точками и идентифицировать фазы и двумерные распределения фаз по поверхности образца.

  • Комментарии
Загрузка комментариев...

Похожие товары:

  • Гироскоп - это просто
    6 665 тг.
    Поступление на склад 28.12.2016
0 Корзина
Стоимость
заказа: 0 тг.
Перейти в корзину для оформления заказа
0
Закладки
Посмотреть