Консультант:
+7(7232) 26 44 09
с 10:00 до 19:00 в раб. дни
Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей. Гриф УМО ВУЗов России

Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей. Гриф УМО ВУЗов России

Автор: Батаев А.А.

Рейтинг:
(0)

Раздел: Учебники: доп. пособия

Издательство: Флинта
ISBN: 978-5-9765-0207-9
Год: 2007

Переплет: твердый переплет
Страниц: 224
Язык: русский
Тираж: 1000 экз.
Формат: 60x88/16 (140x205 мм)

2 400 тг.

Количество

Поступление на склад 29.12.2016
Поделиться:

В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.Для студентов и преподавателей технических ВУЗов.

  • Комментарии
Загрузка комментариев...

Похожие товары:

  • Оптика: Полный курс
    3 805 тг.
    Поступление на склад 29.12.2016
0 Корзина
Стоимость
заказа: 0 тг.
Перейти в корзину для оформления заказа
0
Закладки
Посмотреть